YAMAHA High-end gemengde optische uiterlijkscontroleapparaat YSi-V
Kenmerken:

①2D hoge snelheid, hoge resolutie 2D inspectie

• 12 miljoen pixels hoge resolutie
De eerste in de industrie met een 12-megapixel camera en een hoogpixel telescope. Tegelijkertijd uitgerust met een hoge snelheid beeldverwerking besturingssysteem, niet alleen het horizont uit te breiden, maar ook met hoge resolutie en hoge snelheid, inspectie capaciteit bereikt meer dan 2 keer eerder
5 verschillende methoden voor optimale controle (helderheid, kleur, helling, infrarood, laser)
② 3D-inspectie van hoogte en kanteling (optioneel)
• Het meten van de hoogte in het hele gezichtsveld met een hoge snelheid. Het kan ook nauwkeurig worden gedetecteerd voor slechte effecten die moeilijk kunnen worden gecontroleerd in een 2D-afbeelding, zoals verdraaide delen, soortgelijke kleuren van substraten en componenten, of interferentie van zijdfrukken en lasplaten. Bovendien kan de neiging en richting van het object worden gecontroleerd om nauwkeurig te bepalen of de vorm correct is.
②4D 4-richtingscamera (optioneel)
● Naast het opnemen van een 2D-inspectiebeeld vanaf rechtstreeks boven, is er ook een originele cameratechnologie die een eenmalige schuiffoto maakt van de verkeerde positie en alle componenten in het zichtveld vanuit vier richtingen, om de componenten nauwkeurig te volgen. Afhankelijk van de afbeelding die uit vier richtingen is genomen, kan het substrat direct visueel worden gecontroleerd zonder het te verwijderen, waardoor menselijke fouten worden voorkomen door het aanraken van het substrat en het proces wordt verminderd
② Ondersteuning QA selectie software, smartphone bepaling (optioneel)
• Beoordeling door smartphone
De gecontroleerde slechte informatie wordt via een draadloos LAN naar de smartphone van de exploitant gestuurd en kan op afstand worden bepaald via de smartphone
Optionele QA-software
Na het detecteren van een fout wordt automatische feedback via het LAN-netwerk gegeven. Stop de werking van de object-pleister en geef op het scherm van de pleister informatie over de installatiepositie van de componenten, de montagekoppen, het type zuigmond enz. die gerelateerd zijn aan verschillende componenten
② Met behulp van het dubbele spoorsysteem kunnen 2 kolommen parallelle overdracht worden uitgevoerd om de inspectiesnelheid van middelgrote en kleine substraten te verbeteren; Ook overdracht van grote ultralange substraten tot L750 mm (optioneel)
※Neem contact met ons op als u een substrat met een lengte van meer dan 750 mm nodig hebt

Basisspecificaties en parameters

Voorbeeld: Yamaha YSi-V
2. Object Substrate: L610 x W560 (max) ~ L50 x W50 (min) & ondersteuning L750mm super lange Substrate (optioneel)
Resolutie: zichtbaar licht (rood / groen / blauw) & infrarood (infrarood) 12 μm / 7 μm (optioneel)
4. controleren van het onderwerp: net gemonteerd na de toestand van het onderdeel, na het verharden van de tin pasta en de toestand van het onderdeel
Voedingsspecificaties: driefase 200/208/220/230/240/400/416V, ±10% 50/60Hz
6. gasbron: meer dan 0,4 MPa, schone droogheid
Afmetingen (behalve opvallende delen): L1.252mm x W1.497mm x H1.550mm
Hoofdgewicht: ongeveer 1300 kg