Prisma &De Prisma EXMultifunctionele omgeving vacuüm wolfram draad analyse scanning elektronenmicroscoop

• Een echt multifunctionele laboratorium met een volledige, eenvoudig te bedienen SEM wolfram draad scannen elektronenmicroscoop
• Een uniek ESEM ™ Omgevingsvacuümmodus
• Hoge vacuüm, lage vacuüm en ESEM ™ Omgevingsvacuüm Drie vacuümmodi, geschikt voor het analyseren van het breedste aantal monsters, het monstergebied omvat geleidende materialen, niet-geleidende materialen, ontgassing, ongedekte of andere monsters die niet van toepassing zijn op vacuüm.
• Een reeks geïntegreerde real-time analysesoftware voor het voltooien van dynamische experimentele analyses.
• Laag vacuüm en ESEM-omgevingsvacuüm voldoen aan de analyses van niet-geleidende materialen en belastingvrije monsters
• De in situ functie zorgt ervoor dat zelfs geïsoleerde of hoge temperatuurmonsters betrouwbare analyseresultaten krijgen.
• De camera's met navigatie en SmartScanTM ondersteunen vooraf ingestelde instellingen voor de scan en verbeteren de productiviteit, de kwaliteit van de gegevens en voldoen aan hogere gebruiksvereisten.
• In situ analyse in het temperatuurbereik van -165°C tot 1400°C
• Versnellingsspanning: 200 V - 30 kV
• Elektronische vergroting: 6x – 1.000.000x (vier afbeeldingen tegelijkertijd kunnen worden opgenomen en weergegeven)
• Detector: High vacuum mode Everhart-Thomley secundaire elektronische detector (E-T SED); Low Vacuum SE Detector (LVD) ESEM Environmental Vacuum Mode Gas Secondary Electronic Detector (GESD) Voorbeeld Kamer Infrarood CCD Camera
• Vacuümsysteem: 1 250L / s turbomoleculaire pomp, 1 roterende mechanische pomp; Het gepatenteerde "door de lens" drukdifferentiaal vacuümsysteem; Uitlaattijd ≤3.5min naar hoge vacuüm, ≤4.5min naar ESEM vacuüm / lage vacuüm; Optionele CryoCleaner koude val; Optionele upgrade naar olievrije rollende/droge PVP's
• Voorbeeld kamer:

Binnendiameter 340 mm

Analyseerafstand 10 mm

o 12 aansluitingen

o EDS opvanghoek: 35°

• Resolutie:

高真空模式

• 3,0 nm @ 30 kV (SE)
• 4,0 nm @ 30 kV (BSE)*
• 8,0 nm @ 3 kV (SE)

Verhinderingsmodus onder hoge vacuüm

• 7,0 nm bij 3 kV

Laag vacuümmodus

• 3,0 nm @ 30 kV (SE)
• 4,0 nm @ 30 kV (BSE)
• 10 nm bij 3 kV (SE)

• ESEM omgevingsvacuüm
  • 3,0 nm @ 30 kV (SE)