Xinghe Instrumenten (Shanghai) Co., Ltd.
Home>Producten>4,75 (120 mm) gebogen PEEK bemonsteringsbuis met Luer-adapter, 1/8 (3,2 mm) buitendiameter, compatibel met Hanson Research / Erweka
Bedrijfsinformatie
  • Transactieniveau
    VIP-lid
  • Contact
  • Telefoon
  • Adres
    Kamer G en H, 20e verdieping, New 100 Building, 800 Nanjing East Road, Huangpu District, Shanghai
Neem nu contact op
4,75 (120 mm) gebogen PEEK bemonsteringsbuis met Luer-adapter, 1/8 (3,2 mm) buitendiameter, compatibel met Hanson Research / Erweka
4,75 (120 mm) gebogen PEEK bemonsteringsbuis met Luer-adapter, 1/8 (3,2 mm) buitendiameter, compatibel met Hanson Research / Erweka
Productdetails

4,75 inch (120 mm) gebogen PBEEK-bemonsteringsbuis met Luer-adapter. 1/8 inch (3,2 mm) buitendiameter Compatibele Hanson Research / Erweka perforatie hoofdbehuizing is geschikt voor gesloten systemen. De buis is lang en wordt bovenaan het systeem geïnstalleerd, door de kop naar de opgeloste beker. Gebruik in combinatie met CANSTP-HR om ervoor te zorgen dat de bemonstering altijd op dezelfde diepte plaatsvindt

Online onderzoek
  • Contactpersonen
  • Bedrijf
  • Telefoon
  • E-mail
  • WeChat
  • Verificatiecode
  • Berichtinhoud

Succesvolle operatie!

Succesvolle operatie!

Succesvolle operatie!