Belangrijkste kenmerken van het 12 inch Olympus wafer inspectiesysteem:
Robuust, betrouwbaar en veilig transport
Het 12-inch Olympus wafer inspectiesysteem is een voortzetting van de robuustheid, betrouwbaarheid en veiligheid van de vorige generatie en kan 300 mm wafers veilig en betrouwbaar vervoeren, evenals dunne wafers en Warped wafers.
● Ergonomisch ontwerp, gemakkelijk te bedienen
Het 12-inch Olympus wafer inspectiesysteem kan vrij worden ingesteld in de inspectiemodus, het ontwerp houdt rekening met de operabiliteit in de achtergrondtechniek, met speciale aandacht voor het gebruiksgemak van de apparatuur. De twee modellen zijn FOUP (Load Port) en FOSB.
De optimalisatie van de macro-observatiepositie van het 12-inch Olympus wafer inspectiesysteem en de gecentraliseerde regeling van de bedieningseenheden verbeteren de operationaliteit van de apparatuur.
Automatisch 300 mm wafer inspectiesysteem AL120-12 Technische specificaties
Modelnummer |
AL120-LMB12-LP |
AL120-LMB12-F |
Wafer grootte |
300 mm (SEMI M1,15 t = 775 μm) optioneel: 200 mm |
|
Aantal cartons |
Enkele doos (compatibel met laden en verwijderen) |
|
Cartridgehoogte instellen |
900 mm |
|
Laadpoort |
- Ja. |
Geen |
Vervoervolgorde |
Oppervlakte macro, binnenmacro, microscopische inspectie |
|
Controleermodus |
Alles controleren, monsterneming controleren |
|
Wafer kalibratie |
Contactloze centrale ring |
|
Wafer Handling Methode |
Vacuüm adsorptie mechanische hantering |
|
Toepassing van microscopen |
Halfgeleider Inspectiemicroscoop MX61L |
|
Toepassingsomgeving |
AC100~120 V,220~240 V,3.0/1.7 A,50/60 Hz , Vacuüm - 67-80 Kpa |
|
Transportstation |
XY handmatig bevestigde draagtafel met XY grove/fine-tuning en 360 graden draaimachine |
|
Gewicht (exclusief microscoop) |
ongeveer 360 kg |
ongeveer 270 kg |
